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天平 >> 天平 >> 热分析仪

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可用于测定物质的热反应(吸热或放热)以及发生热反应时的温度,以进行物质的熔融、凝固、分介、化合、还原、氧化、相变、裂介、吸附、解吸、纯度、热硬化,结晶、相图制作、耐热、组分、催化等方面的研究,是从事有机、无机、高分子、矿物、建筑、石油化工、纺织、药物、炸药等方面研究的重要分析手段。

技术参数

差热量程:±10 ±25 ±50 ±100 ±250 ±500 ±1000Μv

温度范围:室温~1100º&

 CRY-1P
产地China
 
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